霍爾效應是指磁場作用于載流金屬導體、半導體中的載流子時,產生橫向電位差的物理現象。當測厚儀電流通過金屬箔片時,若在垂直于電流的方向施加磁場,則金屬箔片兩側面會出現橫向電位差。半導體中的霍爾效應比金屬箔片中更為明顯,而鐵磁金屬在居里溫度以下將呈現*的霍爾效應。 如果把霍爾元件集成的開關按預定位置有規律地布置在測厚儀上,當裝在運動物體上的永磁體經過它時,可以從測量電路上測得脈沖信號。根據脈沖信號列可以傳感出該運動物體的位移。若測出單位時間內發出的脈沖數,則可以確定其運動速度。 根據 霍爾效應測厚儀原理,人們用半導體材料制成霍爾元件,它具有對磁場敏感、結構簡單、體積小、頻率響應寬、輸出電壓變化大和使用壽命長等優點,因此在測量、自動化、計算機和信息技術等領域得到廣泛的應用。 霍爾效應測厚儀校準方法 1、按校準鍵,儀器提示 取下鋼珠,按校準鍵 2、放上帶固定架的鋼珠,按校準鍵 3、這步驟很重要,放上薄墊片和校準鋼珠,按校準鍵,儀器提示薄墊片厚度在1.016mm 近似值,以本次墊片為例1.021mm,測量顯示厚度1.698mm,這個是未校準數據,根據提示繼續按校準按鍵 4、調整厚度值至1.021mm 繼續按校準鍵 5、放上厚墊片和鋼珠,調整厚度值 6、儀器提示用6.096mm近似墊片,實際墊片厚度6.096mm,測量值6.167mm,調準至6.096mm,按校準鍵,此時儀器提醒是否用其他校準片校準,選擇是或者否即可,校準完畢。 |