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菲希爾膜厚儀代理商fmp10+fgab1.3探頭 DELTASCOPE FMP10 可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。配FGAB1.3探頭量程可達(dá)2000μm，適用于電鍍、油漆、涂料等的厚度測量。
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進(jìn)口鍍鉻厚度檢測儀DUALSCOPE FMP20+FD10 FISCHER儀器可以滿足不同行業(yè)中大多數(shù)的測量和分析需求。為了取得很好的測量準(zhǔn)確度和準(zhǔn)確性，在面對不同的測量需求時(shí)應(yīng)選用相對應(yīng)的測量方法:無論是磁感應(yīng)法、電渦流法、BETA射線背散射法、庫侖法、微硬度測量法還是X射線熒光法，F(xiàn)ISCHER總能為您提供合適的測試技術(shù)。
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fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。
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DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個(gè)類似于MP20的手持式儀器中結(jié)合了磁感應(yīng)和渦流兩種方法。
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菲希爾磁感應(yīng)探頭FGA2H原裝代理 探頭FGA2H適用于電鍍、涂料、油漆層的厚度測量。由于探針較大，也適用于表面比較粗糙的工件。測量鋼或鐵基材料（NC / Fe和NF / Fe）上的非導(dǎo)電和非鐵金屬涂層。 該探頭非常適合測量電鍍金屬和有機(jī)涂層厚度。 由于針尖大，探頭也非常適合在粗糙表面上進(jìn)行測量。
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菲希爾（Fischer）MMS PC2多功能模塊測厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測量數(shù)據(jù)處理能力，是一臺結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統(tǒng)。它既可以用來進(jìn)行手動(dòng)的樣品來料檢驗(yàn)，也可以用于過程控制和對產(chǎn)品線進(jìn)行24小時(shí)地監(jiān)控。
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德國菲希爾測厚儀探頭FTD3.3價(jià)格 面對幾乎所有的工業(yè)應(yīng)用，F(xiàn)ISCHER 都可以提供合適的探頭。這些都是針對各種不同的測量應(yīng)用而定制的高精度裝置。經(jīng)過多年的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER已經(jīng)設(shè)計(jì)出了幾百種的探頭，為的就是達(dá)到*精度的*佳測量結(jié)果。當(dāng)然，F(xiàn)ISCHER還提供全面、專家級的咨詢服務(wù),可以協(xié)助您根據(jù)任何給定的測量應(yīng)用選擇合適的探頭。
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MiniTest 725/735/745測厚儀/FN1.5探頭 德國epk（ElektroPhysik）在表面處理行業(yè)的無損涂層測厚儀制造上有著超 過60年的悠久傳統(tǒng)。 典型應(yīng)用于: 鐵基體上的非磁性涂層如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅; 或者有色金屬上如銅，鋁，壓鑄鋅，黃銅 等的絕緣涂層如油漆、陽極氧化膜層或陶瓷。
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菲希爾小型便攜式鐵素體含量測試儀 FERITSCOPE®根據(jù)磁感應(yīng)方法測量奧氏體和雙相鋼中的鐵素體含量。測量所有可磁化組織的截面，即，除了δ鐵素體之外，還測量例如應(yīng)變誘發(fā)的馬氏體或其他鐵素體相。該儀器適合根據(jù)DIN EN ISO 17655進(jìn)行測量。應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)楝F(xiàn)場測量，例如，奧氏體鍍層以及不銹鋼管，容器，鍋爐或其他由奧氏體或雙相鋼制成的產(chǎn)品中的焊縫。
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DUALSCOPE MP0R/ MP0R-FP袖珍式鍍鋅測厚儀 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集成探頭或一個(gè)延長型探頭，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭，它們是 可以直接用于現(xiàn)場可靠測量的理想設(shè)備。
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MMS Automation涂層厚度/電導(dǎo)率自動(dòng)化測量 模塊化的測量系統(tǒng)FISCHERSCOPE®MMS®是自動(dòng)化在線測量涂層厚度和材料測試的正確解決方案。由于接口的標(biāo)準(zhǔn)化，它可以快速集成到質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)化生產(chǎn)過程中。您是選擇在工業(yè)機(jī)器人用一個(gè)探頭測量
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電鍍層測厚儀phascope pmp10/pmp10 duplex PHASCOPE® PMP10主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以準(zhǔn)確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測量。
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菲希爾代理FISCHERSCOPE UMP20/40/100 UMP20測量范圍： 0.5 mm - 508 mm，保持模式和凍結(jié)模式（可升級） UMP40回波-回波測量模式，按鍵發(fā)光和振動(dòng)， 保持模式，凍結(jié)模式和聲速模式（可升級） UMP100彩色顯示實(shí)時(shí)波形， 數(shù)據(jù)儲存功能，按鍵發(fā)光和振動(dòng)，保持模式，凍結(jié)模式和聲速模式（可升級）
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fmp30膜厚計(jì)氧化膜厚度測試儀 德國菲希爾手提式測厚儀可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度：德國Fischer手持式FMP系列儀器是基于磁感應(yīng)法（DELTACOPE）、電渦流法（ISOSCOPE）和兩用方法（DUALSCOPE），并采用了可更換探頭的設(shè)計(jì)，非常適用于對涂鍍層進(jìn)行無損測量。
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菲希爾兩用測厚儀fmp40（Fischer代理） FMP40 FMP20 FM30這些手持式儀器可輕松，快速，無損地測量涂層厚度，并具有所有FISCHER儀器所*的精度。 FMP10至FMP40可以連接70多個(gè)探頭。 因此，您甚至可以解決很復(fù)雜的測量任務(wù)。 測量范圍，真實(shí)性和可重復(fù)性精度取決于所連接的探頭。 該信息可以在相應(yīng)的探頭數(shù)據(jù)表中找到。
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fischer smp350電導(dǎo)率儀中文操作說明 電導(dǎo)率是一個(gè)重要的材料屬性，不僅對金屬傳導(dǎo)電流的能力，也對其成分、微觀結(jié)構(gòu)和機(jī)械性能提供信息。使用SIGMASCOPE SMP350可以簡單快速并準(zhǔn)確地測定電導(dǎo)率。SIGMASCOPE SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測量電導(dǎo)率。 這種方法允許無接觸測量
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費(fèi)希爾庫倫儀（可測厚度及電位差） 該庫侖測厚儀多用于在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有 AgCl 的銀電極得到。
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德國菲希爾ump100超聲波壁厚測厚儀 篤摯儀器（上海）有限公司代理供應(yīng)的德國菲希爾Helmut Fischer UMP150是一款高精度的超聲波測厚儀，用于準(zhǔn)確地、無損地測量壁厚。它采用單晶探頭和高頻方波發(fā)生（30MHz），精度高達(dá)1μm。測量范圍高達(dá)0.1-500mm，且提供多種測量模式。
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菲希爾FGAB 1.3-Ni磁感應(yīng)測鎳探頭 常用磁性探頭：FGAB1.3-Ni，測量范圍：0 - 2000μm，任何一個(gè)電磁測量系統(tǒng)的核心都會是探頭，其信號質(zhì)量決定了計(jì)量方案的整體測量質(zhì)量。 進(jìn)過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務(wù)中實(shí)現(xiàn)具有很高度的測量結(jié)果
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菲希爾（FISCHER）磁感應(yīng)探頭FGAB 1.3 FGAB1.3探頭：FMP10、FMP30標(biāo)準(zhǔn)探頭：FGAB1.3是一款磁感應(yīng)探頭，是DeltaScope FMP10和DeltaScope FMP30磁性測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)探頭，*！FGAB1.3 ： 604-141帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時(shí)，可修改存儲器。并有抗磨損涂層。
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德國菲希爾FISCHER
菲希爾測厚儀