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首頁 > 產品展示 > 德國EPK > EPK涂層測厚儀 > EPK MINITEST 745測厚儀測頭FN1.5 /FN5

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產品名稱：	EPK MINITEST 745測厚儀測頭FN1.5 /FN5
發布時間：	2024-09-02
產品品牌：	ElektroPhysik/德國EPK
產品特點：	EPK MINITEST 745測厚儀測頭FN1.5 /FN5

EPK MINITEST 745測厚儀測頭FN1.5 /FN5的詳細資料：

EPK MINITEST 745測厚儀測頭FN1.5 /FN5

篤摯儀器（上海）有限公司為多種精密檢測儀器設備提供專業的技術服務及售后服務，以技術能力專業、產品資源全面、服務周到快捷、設備質量可靠為宗旨，在機械加工、精良制造、新材料應用、科學研究等前沿領域具有*優勢。進一步了解產品詳細參數信息。

型號FN1.5

類型B / E

測量范圍F: 0 ... 1.5 mm
N: 0 ... 0.7 mm

重復性± (1.0 µm + 0.75 %)

小測量點Ø 5 mm

型號FN5

類型B / E

測量范圍F: 0 ... 5.0 mm
N: 0 ... 2.5 mm

重復性± (1.5 µm + 0.75 %)

小測量點Ø 10 mm

MINITEST 720/730/ 740涂層測厚儀：
一創新的SIDSP (探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的準確性
一測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F (鐵磁性)或N (非磁性)基體，操作方便不易出錯

SIDSP工作原理?
跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32:位數字轉換和處理，帶給您準確的涂層厚度值。此項*的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和準確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。

可選探頭：

Sensor Data
測量原理	探頭型號:	類型:	測量范圍:	Uncertainty (of Reading):	Minimum 小測量點:
磁感應測頭	F0.5M-0 F0.5M-45° F0.5M-90°	A	0 ... 0.5 mm	± (0.5 µm + 0.75 %)	Ø 3 mm
	F1.5	B / E	0 ... 1.5 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F1.5-90°	C	0 ... 1.5 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F2	B / E	0 ... 2.0 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	F2.6	B / E	0 ... 2.6 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F5	B / E	0 ... 5.0 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	F15	D	0 ... 15 mm	± (5.0 µm + 0.75 %)	Ø 25 mm
渦流測頭	N0.7	B / E	0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	N0.7-90°	C	0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	N2.5	B / E	0 ... 2.5 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	N7	D	0 ... 7.0 mm	± (5.0 µm + 0.75 %)	Ø 20 mm
雙功能測頭	FN1.5	B / E	F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	FN1.5-90°	C	F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	FN2.6	B / E	F: 0 ... 2.6 mm N: 0 ... 1.0 mm	± (1.0 µm + 0,75 %)	Ø 5 mm
	FN5	B / E	F: 0 ... 5.0 mm N: 0 ... 2.5 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm