Couloscope CMS多層鍍鎳電位差庫侖測厚儀 Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。 。
共 1 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
17321369640