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  無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230

  無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

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  多層鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀（電解破壞式）

  多層鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀（電解破壞式） 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

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  電鍍銀測(cè)厚儀Couloscope CMS2 庫(kù)侖儀

  電鍍銀測(cè)厚儀Couloscope CMS2 庫(kù)侖儀 COULOSCOPE CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀的儀器通過電解去除層來測(cè)量涂層厚度。 特別地，庫(kù)侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。

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