尼克斯QNix4500P5 測(cè)厚儀代理 QNix4500(含QNix4500、QNix4500/5、QNix4500P、QNix4500P5 )QNix4500P5測(cè)厚儀是分體式Fe/NFe 雙用的雙功能測(cè)厚儀,測(cè)量范圍為Fe: 0-3000um或0-5000um NFe:0-3000um,磁性基體/非磁性基體都可測(cè)。
查看詳細(xì)介紹華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下,單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/C
查看詳細(xì)介紹PET瓶和玻璃檢驗(yàn)用MBT-300霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀,測(cè)量時(shí),將一個(gè)小鋼珠置于測(cè)試材料的一面,并將探頭置于另一面,探頭的霍爾效應(yīng)傳感器測(cè)量出從探頭至鋼珠之間的距離,即時(shí)顯示出厚度讀數(shù)。MBT-300基于霍爾效應(yīng)理論,精度高,重復(fù)性好。
查看詳細(xì)介紹多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
查看詳細(xì)介紹德國(guó)FISCHER公司X-RAY熒光測(cè)厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過(guò)17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過(guò)對(duì)所有相關(guān)過(guò)程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
查看詳細(xì)介紹fischer elektronik測(cè)厚儀代理現(xiàn)貨 涂鍍層測(cè)厚儀 別名:涂層測(cè)厚儀,鍍層厚度測(cè)量?jī)x,涂鍍層厚度無(wú)損測(cè)量?jī)x,手持式涂鍍層測(cè)厚儀,表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x,油漆涂層測(cè)厚儀,便攜式涂層測(cè)厚儀,*涂層測(cè)厚儀,無(wú)損測(cè)厚儀,覆層測(cè)厚儀。。。
查看詳細(xì)介紹涂層測(cè)厚儀fmp10價(jià)格 FMP10和FMP20體現(xiàn)了全新FMP系列手持式儀器準(zhǔn)確的測(cè)量技術(shù)。這些用戶界面友好又堅(jiān)固耐用的儀器配合可更換的探頭使用可以滿足您的測(cè)量要求
查看詳細(xì)介紹電位測(cè)厚COULOSCOPE CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 (根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022)。
查看詳細(xì)介紹進(jìn)口孔銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S SR-SCOPE® SR-SCOPE® 測(cè)量線路板正面上的銅涂層厚度,根據(jù)微電阻法符合 EN 14571 的標(biāo)準(zhǔn)。特別適用于測(cè)量多層或是較薄的板材上的銅厚,因?yàn)樵摐y(cè)量法保證了兩面相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響測(cè)量結(jié)果
查看詳細(xì)介紹德國(guó)進(jìn)口測(cè)厚儀MINITEST 725/735/745 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的準(zhǔn)確性,測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用,F(xiàn)N探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò),SIDSP技術(shù)-新技術(shù),智能數(shù)字化的途層測(cè)厚探頭,模擬信號(hào)處理歐譜已成過(guò)去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。
查看詳細(xì)介紹尼克斯7500 多功能涂層厚度計(jì)能夠使用遠(yuǎn)程探頭(高達(dá)200英尺)和頂層測(cè)量?jī)x在水下測(cè)量涂層厚度。 通過(guò)開(kāi)關(guān)探針測(cè)量鐵和有色金屬表面上的非磁性涂層厚度。
查看詳細(xì)介紹涂層測(cè)厚儀英國(guó)易高Elcometer456操作說(shuō)明 Elcometer-456型涂層測(cè)厚儀測(cè)試范圍廣,有鐵,非鐵,及鐵非鐵混合型探頭供選用。F (鐵)探頭用于測(cè)量在鋼或鐵上的無(wú)磁性涂層。它可以用在涂漆,塑料,電鍍,磁釉,硬鉻,粉末涂料敷層和其他的如無(wú)鎳電鍍層厚度測(cè)量。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)epk測(cè)厚儀MiniTest2500上海經(jīng)銷 德國(guó)EPK MiniTest2500/4500 涂層測(cè)厚儀 德國(guó)EPK MINITEST1100/2100/3100/4100升級(jí)版,德國(guó)EPK MiniTest2500/4500 涂層測(cè)厚儀MiniTest2500/4500 涂層測(cè)厚儀包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能
查看詳細(xì)介紹ElektroPhysik測(cè)厚儀 MiniTest 2500-4500 MiniTest 2500-4500系列是德國(guó)epk新型測(cè)厚儀,替代minitest100-4100系列,為涂層測(cè)量領(lǐng)域中的各種任務(wù)提供了多種探頭,不同的校準(zhǔn)方法和評(píng)估選項(xiàng)。
查看詳細(xì)介紹cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法,可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量,但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)EPK 2500測(cè)厚儀 德國(guó)新款測(cè)厚儀(取代minitest1100-4100系列)MiniTest 2500/4500 系列涂層測(cè)厚儀提供多種測(cè)量探頭,使其可以處理標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用以及更復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。特殊的高溫探頭允許在高達(dá)250°C 或350° C表面溫度的熱表面上進(jìn)行涂層厚度測(cè)量
查看詳細(xì)介紹QNix7500精密涂層測(cè)厚儀操作說(shuō)明和錯(cuò)誤顯示 QNix7500測(cè)厚儀是在產(chǎn)品線上進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的儀器。采用良好的電子技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜多變的測(cè)量任務(wù),這種高精密度的儀器涵蓋廣泛的應(yīng)用,在過(guò)去每的實(shí)踐中我們得出它是堅(jiān)固而且易用的
查看詳細(xì)介紹Mikrotest 6(自動(dòng)型) 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置 MikroTest涂層測(cè)厚儀利用磁吸引力原理。它們通常被稱為“Pull-Off”儀器,“香蕉式儀器”,并被歸類為I型儀器。 MikroTest類型G,類型F和類型S設(shè)計(jì)用于測(cè)量鋼上所有非磁性涂層(如油漆,鉻,銅,橡膠等)的厚度*
查看詳細(xì)介紹qnix4200涂層測(cè)厚儀 (Fe 200mil) QNix4200 QNix4500厚度計(jì) QNix4200是一種磁性測(cè)厚儀,可用于測(cè)量鋼,鐵和其他磁性基材上的涂層。 QNix4500是一種電磁兼渦流測(cè)厚儀。 它不僅可以用于測(cè)量磁性基材,例如鋼, 它也可用于測(cè)量鋁,銅和不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層,氧化膜和磷化膜。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)品牌電解(庫(kù)侖)測(cè)厚儀Couloscope cms2 篤摯儀器提供全套的德國(guó)Fischer 庫(kù)侖測(cè)厚儀極配件備件,操作指導(dǎo),技術(shù)服務(wù)等,一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
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